標(biāo)準(zhǔn)解讀|《磁隨機存儲器件數(shù)據(jù)保持時間測試方法》《磁隨機存儲芯片數(shù)據(jù)保持時間測試方法》

基于自旋電子器件的磁隨機存儲器以其非易失性、抗輻照、低功耗和高速讀寫能力，被視為突破“后摩爾時代”功耗瓶頸的關(guān)鍵技術(shù)，在航空航天、國防科技和高端消費電子等領(lǐng)域具有重要應(yīng)用前景。數(shù)據(jù)保持時間表征了磁隨機存儲器件和芯片的可靠性以及穩(wěn)定存儲數(shù)據(jù)的能力，是決定存儲器性能的關(guān)鍵參數(shù)。為提高磁隨機存儲器件和芯片性能及推動產(chǎn)業(yè)化，學(xué)術(shù)界和產(chǎn)業(yè)界進行了大量研究以獲取恰當(dāng)?shù)臄?shù)據(jù)保持時間，但目前仍缺乏對磁隨機存儲器件及芯片的數(shù)據(jù)保持時間進行測試的標(biāo)準(zhǔn)。

為了對磁隨機存儲器件和芯片測試提供規(guī)范化指導(dǎo)，中國電子學(xué)會聯(lián)合北京航空航天大學(xué)等多家單位，發(fā)布了團體標(biāo)準(zhǔn)《磁隨機存儲器件數(shù)據(jù)保持時間測試方法》《磁隨機存儲芯片數(shù)據(jù)保持時間測試方法》(T/CIE 133-2022，T/CIE 134-2022)，兩項標(biāo)準(zhǔn)于2022年8月10日正式發(fā)布并實施，由中國電子學(xué)會提出并歸口。

兩項標(biāo)準(zhǔn)分別規(guī)定了磁隨機存儲器件和磁隨機存儲芯片數(shù)據(jù)保持時間測試的測試原理、測試環(huán)境、測試設(shè)備、測試程序等，適用于磁隨機存儲器件與芯片的數(shù)據(jù)保持時間測試及驗證，為磁隨機存儲器件和芯片的相關(guān)測試提供了科學(xué)、規(guī)范的方法，確保了測試的準(zhǔn)確性和可靠性。

這兩項標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)布，不僅響應(yīng)了國家對于加強集成電路產(chǎn)業(yè)自主創(chuàng)新能力的要求，而且為我國磁存儲技術(shù)的發(fā)展提供了堅實的技術(shù)基礎(chǔ)。標(biāo)準(zhǔn)的實施將有助于提高磁存儲產(chǎn)品測試的可靠性和穩(wěn)定性，促進磁存儲技術(shù)的創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)化進程，同時也是推動我國磁存儲技術(shù)領(lǐng)域發(fā)展的重要舉措，為實現(xiàn)我國磁存儲器件自主可控提供重要技術(shù)支撐。

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