2024-10-21
中國電子學(xué)會可靠性分會第二十六屆全國可靠性物理年會因故推遲至2024年11月29日-12月1日在浙江溫州市召開。本次會議聚焦可靠性前沿技術(shù)及展望、失效模式及失效機理、可靠性/環(huán)境適應(yīng)性試驗與評價、可靠性設(shè)計與仿真試驗、安全性/測試性/保障性及故障診斷等領(lǐng)域的最新科研成果,為來自學(xué)術(shù)界、工業(yè)界和政府機構(gòu)的專家學(xué)者、行業(yè)精英、工程技術(shù)人員和在校學(xué)生搭建交流平臺,為高可靠產(chǎn)品的產(chǎn)、學(xué)、研、用協(xié)同創(chuàng)新提供便捷的交流機會。會議擬邀請從事相關(guān)研究的知名專家做大會特邀報告,熱烈歡迎各位專家、作者參會!
一、會議信息
會議時間:2024年11月29日-12月1日
會議地點:浙江省溫州市
主辦單位:
中國電子學(xué)會可靠性分會
電子元器件可靠性物理及其應(yīng)用技術(shù)國家級重點實驗室
承辦單位:
溫州賽寶工業(yè)技術(shù)研究院有限公司
協(xié)辦單位:
智能制造裝備通用質(zhì)量技術(shù)及應(yīng)用工業(yè)和信息化部重點實驗室;
工業(yè)裝備質(zhì)量大數(shù)據(jù)工業(yè)和信息化部重點實驗室;
智能產(chǎn)品質(zhì)量評價與可靠性保障技術(shù)工業(yè)和信息化部重點實驗室;
工業(yè)軟件工程化與應(yīng)用技術(shù)工業(yè)和信息化部重點實驗室;
廣東省電子信息產(chǎn)品可靠性技術(shù)重點實驗室;
中國仿真學(xué)會集成微系統(tǒng)建模與仿真專委會;
IEEE EDS 廣州分會。
支持媒體:
中國電子學(xué)會權(quán)威學(xué)術(shù)期刊《電子學(xué)報》(EI收錄、中文核心期刊,網(wǎng)址:http://www.ejournal.org.cn)
中國電子學(xué)會專業(yè)性學(xué)術(shù)期刊《新一代信息技術(shù)》(https://newit.ejournal.org.cn)
期刊《電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗》
期刊《微納電子與智能制造》(網(wǎng)址:http://www.mneim.org.cn)。
二、會議主題:
推陳出新,可靠成就未來
三、會議日程
時間 | 會議內(nèi)容 | |
11月29日 (周五) | 12:00-22:00 | 報到注冊 |
11月30日 (周六) | 08:30-09:30 | 報到注冊 |
09:30-12:00 | 開幕式、特邀報告 | |
13:30-17:30 | 分會場口頭報告 | |
12月1日 (周日) | 09:00-11:00 | 參觀溫州賽寶實驗室 |
四、會議費用
會員代表注冊報名:RMB 2000.00元
非會員代表注冊報名:RMB 2500.00元
學(xué)生會員注冊報名:RMB 1400.00元
非學(xué)生會員注冊報名:RMB 1600.00元
如需加入會員,請掃描下列二維碼申請入會,并繳納會費200元/年,學(xué)生繳納會費50元/一次性。
會員類別請選:個人會員
加入機構(gòu)請選:可靠性分會
五、會議報名及繳費(先報名,后繳費)
為統(tǒng)計大會參會信息,務(wù)必請大家先報名(可先報名,稍后再繳費)。
會議報名:請登陸“中國電子學(xué)會可靠性分會第二十六屆全國可靠性物理年會”網(wǎng)址:https://meet.cie.org.cn/cms/10793/index.html,或掃描以下二維碼,點擊“報名注冊入口”完成報名信息錄入。
會議報名二維碼
會議繳費:
(1)繳費:登錄https://meet.cie.org.cn/cms/10793/index.html,會議收據(jù)在會后由學(xué)會發(fā)至報名郵箱。
(2)提前銀行對公轉(zhuǎn)賬 (適用于需開具增值稅專用發(fā)票的單位),銀行轉(zhuǎn)賬信息:
賬戶名稱 | 戶名:中國電子學(xué)會 |
賬號 | 賬號:9558850200000715370 |
開戶行 | 開戶行:工商銀行北京公主墳支行 |
轉(zhuǎn)賬備注 | 注明發(fā)票類型 |
發(fā)票類型 | 會議費 |
普票 | 發(fā)票抬頭、納稅人識別號 |
專票 | 發(fā)票抬頭、納稅人識別號、單位地址、聯(lián)系電話、 開戶銀行、銀行賬號 |
六、會務(wù)組聯(lián)系方式
張老師 18520117149 (委員、會務(wù)相關(guān))
馬老師 17609009817 (作者、論文相關(guān))
中國電子學(xué)會可靠性分會
2024年10月18日
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